Applied logistic regression David W. Hosmer y Stanley Lemeshow.
Por: Hosmer, David W.
Colaborador(es): Lemeshow, Stanley.
Tipo de material:
LibroSeries Wiley series in probability and statisticsTexts and references section. Editor: New York Johon Wiley & Sons 2000Edición: 2nd ed.Descripción: xii, 375 p. il. 25 cm.ISBN: 0471356328; 9780471356325.Tema(s): ANÁLISIS DE REGRESIÓN
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"A Wiley-Interscience publication."
Incluye referencias bibliográficas (p. 354-365) e índice.
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